BARKER可規劃的檢驗光幕介紹，邦納測量光幕應用

產(chǎn)品技術(shù)規格

功能為可規劃的量測檢驗光幕.
包括個(gè)控制器, 發(fā)射器和接收器及內部連接用訊號線(xiàn).
提供可規劃的控制器和可選擇的測量模式選擇、掃描模態(tài)和輸出組態(tài)
提供高度從 133 到 1819 公厘的選擇, 依型號而定
提供發(fā)射器和接收器zui小偵測物件達12.7mm
包含進(jìn)階設定軟體
可選擇的型號中有的監控和控制到 DeviceNet 的控制網(wǎng)路
功能為可選擇加熱型密閉式外殼附件在戶(hù)外使用

BARKER可規劃的檢驗光幕介紹，邦納測量光幕應用
產(chǎn)品技術(shù)規格、可用于邊緣和定位,張力控制, 孔洞尺寸測量,零件計數和產(chǎn)品尺寸外形檢測

緊密的光束zui小可以檢測5mm寬的物體;分辨率為2.5 mm.
接收器內建控制器功能,所以無(wú)需控制器,軟件和PC
簡(jiǎn)便易用的安裝軟件包含了許多進(jìn)階設定功能
有14種測量模式,3種掃描方式,2個(gè)開(kāi)關(guān)輸出和2個(gè)模擬量輸出,排通訊接頭
發(fā)射器與接收器之間間距為4m
光幕高度從150到2400 mm.
產(chǎn)品技術(shù)規格

優(yōu)良、高速的高精度檢測光幕，應用檢測、精密邊緣、指引和孔洞偵測。
包含個(gè)控制器、發(fā)射器、接收器，和連接電纜
提供個(gè)控制器，可選擇測量模式、掃描模式、輸出配置
光幕高度163-1951 mm, 依型號區分
zui小被檢測物高度為2.5 mm
2m的檢測距離，易于對準
可規劃遮蔽模式、遲滯模式和序列通訊模式
包含進(jìn)階規畫(huà)軟體進(jìn)行進(jìn)階設定（軟體已含）